در روش های V-block تفاوت بین حداکثر و حداقل مقدار سیگنال خوانده شده توسط سنسور یک انحراف واقعی نیست. زیرا مقدار اندازه گیری شده سیگنال نه تنها به مقدار انحراف واقعی اندازه گیری شده در نقطه تماس سنسور و قطعه کار، بلکه به مقدار انحراف در نقطه تماس قطعه کار و تکیه گاه ها نیز بستگی دارد. بنابراین، پروفیل اندازه‌گیری‌شده برای پارامترهای از پیش تعریف‌شده (زوایای α، β) به‌طور قابل‌توجهی با نیمرخ واقعی متفاوت است.. اخیراً، روش‌های بلوک V عمدتاً برای ارزیابی پروفیل‌های گردی زمانی که هارمونیک غالب است.فاده می‌شود، است.فاده می‌شود. این ارزیابی فقط شامل محاسبه مقدار انحراف گرد بود. ابتدا لازم بود تعداد مولفه هارمونیک غالب تعیین شود و سپس مقدار تقریبی انحراف گردی با است.فاده از فرمول محاسبه شود.

شدت مغناطیسى V ها و سطوح را مى توان به صورت v شدت مغناطیسى همزمان با چرخاندن دکمه فعال یا غیر فعال کرد. این ویژگى وى بلوک را قادر مى سازد تا خودش و قطعه کار را روى هر سطح آهنى ، شامل سه نظام ثابت آهنربایى ( بدون ایجاد خاصیت مغناطیسى درسه نظام ) نگه دارد. دکمه برنجى برخلاف دکمه هاى معمولى برهم کنشى با میدان مغناطیسى ندارد. بلوک ها براى مقاومت در برابر سایش تا ۵۵- راکول سخت شده اند .

با بیش از سال سابقه در قلب ابزار ایران مفتخریم بهترین‌ها را در اختیار شما عزیزان قرار دهیم. ابزار آلات تراشکاری، اندازه گیری، انواع فرزهای حکاکی، ابزار آلات بادی، دستی و باغبانی با بهترین کیفیت و قیمت را از ما بخواهید. تمامی فرزهای حکاکی سیلور دارای گارانتی بدون قید و شرط می‌باشند.

برخورداری از برگه کالیبره ، دوام و طول عمر بالا ، اقتصادی و مقرون به صرفه بودن ، نگهدارنده قطعات گرد جهت بازرسی و ماشین کاری ، حالت V در قسمت بالا برای میله های بزرگ و حالت V در قسمت پایین برای میله های کوچک تر ، سخت کاری نشده از جمله از ویژگی های بارز وی بلوک مگنت اینسایز - می باشند و معایب این وسیله برای سطوح است.یل و آهنی به دلیل کاهش نیروی آهنربایی نامناسب است..

بنابراین کنترل اشکالات شکل و فرم عناصر است.وانه ای نه تنها در فرآیند ساخت، بلکه در حین بهره برداری از آن بسیار مهم است.. با این حال، روش‌های موجود اجازه چنین اندازه‌گیری را نمی‌دهند  به نظر نویسندگان می توان از روش V-block برای چنین اندازه گیری هایی است.فاده کرد که در روش‌های V-block یک سیگنال اندازه‌گیری در رابطه با یک داده فیزیکی اندازه‌گیری می‌شود و مبنا توسط نقاط پشتیبانی قطعه کار و نقاط تماس سنسور اندازه گیری و قطعه کار تشکیل می شود  ترتیب این نقاط در رابطه با سیستم مختصات اختصاص داده شده با پارامترهای روش &#; زوایاو β تعریف می شود.